X射線熒光光譜儀是一種利用X射線照射物質(zhì)后產(chǎn)生熒光現(xiàn)象的儀器，可以用于元素分析和表面化學(xué)分析。其工作原理如下：X射線照射待檢樣品表面，激發(fā)原子內(nèi)部電子躍遷，產(chǎn)生特定波長(zhǎng)的熒光輻射，熒光輻射被探測(cè)器檢測(cè)并轉(zhuǎn)化成電信號(hào)，再經(jīng)過(guò)信號(hào)處理裝置分析、處理和記錄，通過(guò)熒光輝譜儀分析熒光發(fā)射的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀具有高靈敏度、高準(zhǔn)確度和非破壞性的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬分析等領(lǐng)域。
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)，探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，會(huì)放射出特征X光；不同的元素會(huì)放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長(zhǎng)特性。檢測(cè)器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管(EURoHS)和考古學(xué)等領(lǐng)域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補(bǔ)，減少工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室之分析人力投入。
X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：
作界面簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，快捷
無(wú)損檢測(cè)，在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析
采用139±5eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度
能夠檢測(cè)鹵族元素的準(zhǔn)確含量
同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測(cè)量的部位
電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的延長(zhǎng)X光管的壽命
外觀高貴大方，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾
采用雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。
自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等，客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法，設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開(kāi)關(guān)，以確保用戶安全使用。
